Исследования
Образование
Решения
RU
EN - English
CN - 中文
DE - Deutsch
ES - Español
KR - 한국어
IT - Italiano
FR - Français
PT - Português
TR - Türkçe
JA - 日本語
PL - Polski
RU - Русский
HE - עִברִית
AR - العربية
Войдите в систему
Michigan Center for Materials Characterization
15+ years experience operating scanning electron microscopes, focused ion beam microscopes, transmission electron microscopes, atom probe tomography, optical microscopy and sample preparation.
University of Michigan
Shreya Mahajan1,
Jonah A. Sharkins2,4,
Allen H. Hunter5,
Amir Avishai6,
Evon S. Ereifej2,3,4
1Department of Electrical Engineering and Computer Science, University of Michigan,
2, Veteran Affairs Ann Arbor Healthcare System,
3Department of Neurology, School of Medicine, University of Michigan,
4Department of Biomedical Engineering, University of Michigan,
5Michigan Center for Materials Characterization, University of Michigan,
6, Carl Zeiss SMT, Inc.
Конфиденциальность
Условия эксплуатации
Политика
СВЯЖИТЕСЬ С НАМИ
РЕКОМЕНДОВАТЬ БИБЛИОТЕКЕ
НОВОСТИ JoVE
JoVE Journal
Подборки методов
JoVE Encyclopedia of Experiments
Архив
JoVE Core
JoVE Science Education
JoVE Lab Manual
JoVE Business
JoVE Quiz
JoVE Playlist
АВТОРЫ
Библиотекарь
Доступ
О JoVE
JoVE Sitemap
Авторские права © 2025 MyJoVE Corporation. Все права защищены