Войдите в систему

Preparation of Nanoparticles for ToF-SIMS and XPS Analysis

7.7K Views

06:24 min

September 13th, 2020

DOI :

10.3791/61758-v

September 13th, 2020


Транскрипт

Смотреть дополнительные видео

Nanoparticles

Главы в этом видео

0:05

Introduction

0:45

Nanoparticle Suspension Preparation, Drop-Dry Deposition, and Spin Coating Deposition

2:24

Nanoparticle Powder Deposition

3:15

Nanoparticle Suspension Cryofixation

4:06

Results: Representative Nanoparticle Preparation for Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry (ToF-SIMS) and X-Ray Photoelectron Spectroscopy (XPS) Analysis

5:41

Conclusion

Похожие видео

JoVE Logo

Исследования

Образование

О JoVE

Авторские права © 2025 MyJoVE Corporation. Все права защищены